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介电常数介质损耗测试仪

简要描述:介电常数介质损耗测试仪测试回路采用了优化的设计、优质的介质材料和优良的涂覆工艺使残值减少。其高频信号源是采用DDS数字合成、Q值测定和显示部分运用了微机技术和智能化管理,数码锁定信号源频率,谐振回路自动搜索,测试标频自动设置技术,使得测试精度更高,使生产线分选测试速度大增。

  • 产品型号:ZJD-A
  • 厂商性质:生产厂家
  • 更新时间:2022-07-15
  • 访  问  量:522

详细介绍

ZJD-A型介电常数介质损耗测试仪

介电常数介质损耗测试仪概述:

    ZJD-A型介电常数及介质损耗测试仪是一种通用的,多用途,多量程的高频阻抗测量仪器。它可测量高频电感器,高频电容器及各种谐振元件的品质因数(Q值)、电感量、电容量、分布电容、分布电感,也可测量高频电路组件的有效串、并联电阻、传输线的特征阻抗、电容器的损耗角正切值、电工材料的高频介质损耗、介质常数等等。因而高频Q表不但广泛用于高频电子元件和材料的生产、科研、品质管理等部门、也是高频电子和通信实验室的常用仪器。它的测试回路采用了优化的设计、优质的介质材料和优良的涂覆工艺使残值减少。其高频信号源是采用DDS数字合成、Q值测定和显示部分运用了微机技术和智能化管理,数码锁定信号源频率,谐振回路自动搜索,测试标频自动设置技术,使得测试精度更高,使生产线分选测试速度大增。

技术参数

Q值测量:1-999 三位数显,自动切换量程,可手动设置测量量程

固有误差≤5%±满度值的2%

工作误差≤7%±满度值的2%

电感测量:0.1μH-1H 误差<5%±0.03μH

测试频率10kHz-60MHz 五位数显 DDS数字合成

具有频标自动设置,自动搜索谐振点,Q值合格设置,声光指示

频率误差3×10-5±1个字

调谐电容:主电容:40-500PF 误差<±1%或 1PF

微调电容:±3PF 分辨率0.2PF

夹具工作特性 :

1.平板电容器:

极片尺寸:Φ50mm/Φ38mm可选

极片间距可调范围:≥15mm

2. 夹具插头间距:25mm±0.01mm

3. 夹具损耗正切值≤4×10-4 (1MHz)

4.测微杆分辨率:0.001mm

配置:

主机一台

电感九支

夹具一套

随机文件一套

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