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高频介电常数介质损耗测试仪

简要描述:ZJD-C介电常数及介质损耗测试仪作为一代的通用、多用途、多量程的阻抗测试仪器,测试频率上限达到目前国内Z高的160MHz。

  • 产品型号:
  • 厂商性质:生产厂家
  • 更新时间:2022-12-21
  • 访  问  量:974

详细介绍

    ZJD-C介电常数及介质损耗测试仪仪器介绍

    ZJD-C介电常数及介质损耗测试仪是根据GB/T 1409《测量电气绝缘材料在工频、音频、高频(包括米波波长在内)下电容率和介质损耗因数的试验方法》(等效采用IEC 60250)设计和制造的,并符合JB 7770等试验方法。它适用于在高频(1MHz)下绝缘材料的测试。

    技术参数

    ZJD-C介电常数及介质损耗测试仪作为一代的通用、多用途、多量程的阻抗测试仪器,测试频率上限达到目前高的160MHz。 ZJD-C介电常数及介质损耗测试仪采用了多项技术:

    1 双扫描技术 - 测试频率和调谐电容的双扫描、自动调谐搜索功能。

    2 双测试要素输入 - 测试频率及调谐电容值皆可通过数字按键输入。

    3 双数码化调谐 - 数码化频率调谐,数码化电容调谐。

    4 自动化测量技术 -对测试件实施 Q 值、谐振点频率和电容的自动测量。

    5 全参数液晶显示 – 数字显示主调电容、电感、 Q 值、信号源频率、谐振指针。

    6 DDS 数字直接合成的信号源 -确保信源的高葆真,频率的高精确、幅度的高稳定。

    7 计算机自动修正技术和测试回路*化 —使测试回路 残余电感减至zui低,** Q 读数值在不同频率时要加以修正的困惑。

    ZJD-C介电常数及介质损耗测试仪的创新设计,无疑为高频元器件的阻抗测量提供了*的解决方案,它给从事高频电子设计的工程师、科研人员、高校实验室和电子制造业提供了更为方便的检测工具,测量值更为精确,测量效率更高。使用者能在仪器给出的任何频率、任意点调谐电容值下检测器件的品质,无须关注量程和换算单位

    主要技术特性

Q 值测量范围  1023 ,量程分档: 30  100  300  1000,自动换档或手动换档
固有误差 ≤ 5  ± 满度值的 2 (200kHz  10MHz ),≤6 ± 满度值的2%(10MHz160MHz
工作误差 ≤7 ± 满度值的2( 200kHz  10MHz),≤8 ± 满度值的2%(10MHz160MHz
电感测量范围 4.5nH ~ 140mH
电容直接测量范围  200pF
主电容调节范围 18  220pF
主电容调节准确度 120pF 以下 ± 1.2pF;120pF 以上 ± 1 
信号源频率覆盖范围 100kHz ~ 160MHz
频率分段(虚拟) 100  999.999kHz ,1  9.99999MHz,10  99.9999MHz,100  160MHz
频率指示误差 3 × 10 -5 ± 1 个字

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