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介电常数介质损耗测试仪-介电常数测试仪

简要描述:介电常数及介质损耗测试仪是根据GB/T 1409《测量电气绝缘材料在工频、音频、高频(包括米波波长在内)下电容率和介质损耗因数的试验方法》(等效采用IEC 60250)设计和制造的,并符合JB 7770等试验方法。它适用于在高频(1MHz)下绝缘材料的测试。

  • 产品型号:
  • 厂商性质:生产厂家
  • 更新时间:2022-12-21
  • 访  问  量:1007

详细介绍

    ZJD-A介电常数及介质损耗测试仪仪器介绍

    ZJD-A介电常数及介质损耗测试仪是根据GB/T 1409《测量电气绝缘材料在工频、音频、高频(包括米波波长在内)下电容率和介质损耗因数的试验方法》(等效采用IEC 60250)设计和制造的,并符合JB 7770等试验方法。它适用于在高频(1MHz)下绝缘材料的测试。

    技术参数

    1 Q值测量范围:5~999

    Q值量程分档:30、100、300、999、自动换档或手动换挡

    误差:25kHz~10MHz   ≤5%±满度值的2%

    10MHz~50MHz  ≤7%±满度值的2%

    2 电感测量范围:0.1μH~1H  分七个量程

    3 电容测量范围:1PF~460PF

    主电容调节范围:40PF~500 PF

    准确度:150PF以下±1.5PF

    150PF以上±1%

    微调电容调节范围:-3PF~0PF~+3PF

    准确度:±0.2PF

    4 频率覆盖范围:25 kHz~50MHz 分七段

    指示误差:2×10-4±2个字

    5 电源:220V±22V   50Hz±2.5Hz   25W

    6 环境温度:(0~+40)℃

    7 相对湿度:RH<80%

    8 外形尺寸:380mm×132mm×280mm

    9 重量:约7kg

    中航时代所有产品质保两年,终身维修,请放心浏览选购。

    ZJD-B数字式介电常数及介质损耗测试仪

    仪器介绍

    ZJD-B全数字显示介电常数及介质损耗测试仪是根据GB/T 1409《测量电气绝缘材料在工频、音频、高频(包括米波波长在内)下电容率和介质损耗因数的试验方法》(等效采用IEC 60250)设计和制造的,并符合JB 7770等试验方法。它适用于在高频(1MHz)下绝缘材料的测试。

    ZJD-B数字式介电常数及介质损耗测试仪读书清晰,无须换算,操作简便,特别适合电子元器件的质量分析,品质控制,科研生产,也可用于高校的电子信息,电子通信,材料科学等专业作科研实验仪器.

    技术参数

信号源频率范围 DDS数字合成 10KHz-60MHz Q测量范围 1-1000自动/手动量程
信号源频率覆盖比 1900/9/6 0:01 Q分辨率 4位有效数,分辨率0.1
信号源频率精度 3X10 -5 ±1个字,6位有效数 Q测量工作误差 <5%
电感测量范围 15nH-8.4H,4位有效数,分辨率0.1nH 调谐电容 主电容30-500PF
电感测量误差 <5% 调谐电容误差和分辨率 ±1.5P或<1%
标准测量频点 全波段任意频率下均可测试 Q合格预置范围 5-1000声光提示
谐振点搜索 自动扫描 Q量程切换 自动/手动
谐振指针 LCD显示 LCD显示参数 F,L,C,Q,波段等

    中航时代所有产品质保两年,终身维修,请放心浏览选购。

    ZJD-C介电常数及介质损耗测试仪仪器介绍

    ZJD-C介电常数及介质损耗测试仪是根据GB/T 1409《测量电气绝缘材料在工频、音频、高频(包括米波波长在内)下电容率和介质损耗因数的试验方法》(等效采用IEC 60250)设计和制造的,并符合JB 7770等试验方法。它适用于在高频(1MHz)下绝缘材料的测试。

    技术参数

    ZJD-C介电常数及介质损耗测试仪作为一代的通用、多用途、多量程的阻抗测试仪器,测试频率上限达到目前高的160MHz。 ZJD-C介电常数及介质损耗测试仪采用了多项技术:

    1 双扫描技术 - 测试频率和调谐电容的双扫描、自动调谐搜索功能。

    2 双测试要素输入 - 测试频率及调谐电容值皆可通过数字按键输入。

    3 双数码化调谐 - 数码化频率调谐,数码化电容调谐。

    4 自动化测量技术 -对测试件实施 Q 值、谐振点频率和电容的自动测量。

    5 全参数液晶显示 – 数字显示主调电容、电感、 Q 值、信号源频率、谐振指针。

    6 DDS 数字直接合成的信号源 -确保信源的高葆真,频率的高精确、幅度的高稳定。

    7 计算机自动修正技术和测试回路*化 —使测试回路 残余电感减至zui低,** Q 读数值在不同频率时要加以修正的困惑。

    ZJD-C介电常数及介质损耗测试仪的创新设计,无疑为高频元器件的阻抗测量提供了*的解决方案,它给从事高频电子设计的工程师、科研人员、高校实验室和电子制造业提供了更为方便的检测工具,测量值更为精确,测量效率更高。使用者能在仪器给出的任何频率、任意点调谐电容值下检测器件的品质,无须关注量程和换算单位。

  主要技术特性
Q 值测量范围 2 ~ 1023,量程分档: 30 、 100 、 300 、 1000,自动换档或手动换档
固有误差 ≤ 5%±满度值的 2%(200kHz~10MHz),≤6%±满度值的2%(10MHz~160MHz)
工作误差 ≤7% ± 满度值的2%(200kHz ~ 10MHz),≤8% ± 满度值的2%(10MHz~160MHz)
电感测量范围 4.5nH ~ 140mH
电容直接测量范围 1 ~ 200pF
主电容调节范围 18 ~ 220pF
主电容调节准确度 120pF 以下 ± 1.2pF;120pF 以上 ± 1 %
信号源频率覆盖范围 100kHz ~ 160MHz
频率分段(虚拟) 100 ~ 999.999kHz,1 ~ 9.99999MHz,10 ~ 99.9999MHz,100 ~ 160MHz
频率指示误差 3 × 10 -5 ± 1 个字

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