江苏海田电子材料选购中航时代ZJD-C高频介电常数及介质损耗测试仪

2026年10月，北京中航时代仪器设备有限公司与江苏海田电子材料有限公司达成合作，江苏海田电子材料正式选购中航时代ZJD-C高频介电常数及介质损耗测试仪。此次合作不仅是对中航时代在电性能测试领域技术实力的又一次印证，也标志着中航时代在高频电子材料检测市场的进一步深耕。

聚焦高频电子材料，精准把控介电性能

在5G通信、高频高速覆铜板、先进电子陶瓷及半导体封装材料等领域，材料的介电常数（Dk）和介质损耗因数（Df）是决定信号传输速度、损耗和完整性的核心指标。江苏海田电子材料作为电子材料领域的专业企业，对材料在高频工况下的电性能评估有着严苛要求。中航时代ZJD-C测试仪的引入，将为其在新型电子材料的研发与质量控制中提供可靠的数据支撑。

ZJD-C：高频宽域与高精度的结合

中航时代ZJD-C介电常数及介质损耗测试仪是一款专为高频电性能测试打造的精密仪器。设备采用DDS数字合成信号源，信号频率范围覆盖100kHz至160MHz，信号源频率覆盖比达16000:1，频率精度高达3×10⁻⁵±1个字。宽广的测试频段能够充分满足电子材料在不同高频应用场景下的测试需求。

在核心测量能力上，ZJD-C表现出众：

• 超高精度：介质损耗系数精度达万分之一，介电常数精度达千分之一；Q值测量范围1～1000，自动/手动量程可选，Q分辨率达4位有效数。

• 直读便捷：具备大电容值直接显示、介质损耗直读、介电常数直读功能，极大地提升了实验人员的数据读取效率。

• 精准补偿：具备谐振点自动扫描及自身残余电感扣除功能，有效消除系统误差，确保测试结果的真实性。

• 灵活适配：测试极片直径Φ38mm，材料测试厚度0.1-10mm，极片间距可调（≥15mm），测微杆分辨率高达0.001mm，可满足不同形态、不同厚度电子材料的精密测试。

计量溯源，保障测试合规与可靠性

对于电子材料检测而言，设备的准确性和数据的可溯源性至关重要。中航时代ZJD-C测试仪严格依据ASTM D150-11、GB/T1409-2006、GB/T1693-2007、GB/T5594.4-2015等国内外标准设计制造。

值得一提的是，该设备可提供由上海市计量测试技术研究院（SIMT）出具的校准证书。证书数据表明，其信号源频率示值误差、Q值测量误差（不确定度达3.0%）、调谐电容器低频示值等关键指标均符合校准规范要求，量值可溯源至国家基准，为江苏海田电子材料实验室的测试数据合规性提供了坚实保障。

深化电性能检测布局，持续服务制造

此次江苏海田电子材料选购ZJD-C，是中航时代在电子材料电性能测试领域的又一重要应用案例。结合此前中航时代在击穿电压测试（HVT系列）、体积表面电阻率测定等领域的丰富产品线，中航时代已具备为电子材料行业提供“绝缘电阻-介电常数-介质损耗-击穿电压"全维度电性能检测解决方案的能力。

未来，中航时代将继续秉持“精准、可靠、安全"的产品理念，依托ISO9001质量管理体系及售后服务体系，为江苏海田电子材料及更多电子材料行业客户提供高效、精准的检测仪器，助力我国高频高速电子材料产业的高质量发展。