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咨询电话:13699145010一、测量装置的核心构成
该装置主要由两大部分组成:
1.改进型平行板电容器系统:用于夹持样品并形成可精确控制的测试电场。
2.精密阻抗测量仪器(万用电桥):用于精确测量电容器在有/无样品时的电容值,从而计算介电常数(εr)和介质损耗角正切(tanδ)。
二、电容器的机械结构
1.极板系统:
极板尺寸增大:将上下圆形电极板的直径从约40mm增大至100.00mm。这确保了极板直径(d)远大于极板间距(D),更好地满足了d>>D(论文中要求d≥20D)的理论测量条件,减少了边缘效应带来的误差。
材料:通常为金属(如黄铜),表面平整光滑,确保与样品良好接触。
2.间距控制与测量系统:
驱动方式:上极板通过一个精密螺母机构驱动升降,而非原有的螺旋测微仪。关键改进在于,这种设计确保了上极板在垂直升降时自身不发生转动,从而保证了上下极板始终保持平行,消除了因极板相对转动引入的系统误差。
间距测量:使用一个千分表实时、精确地测量上极板的位移。千分表直接归零校准,读数即为极板间距(D)或样品厚度(t),测量精度远高于原有装置。
3.样品舱:由上下极板之间的空间构成,用于放置固体绝缘材料样品(如有机玻璃板)。
三、测量原理与工作流程
测量基于“平行板电容器法":
1.基本原理公式:
无样品时(极板间距为D)的电容:C0=ε0A/D
有样品时(样品厚度t,极板间距仍为D,样品紧贴下极板)的电容:C=ε0A/(D-t+t/εr)
相对介电常数εr计算公式(推导后):
εr=t/[t-(C0/C)(D-t)+(D-t)]
(实际操作中,通过测量不同D下的C0和C,利用公式计算并取平均,如论文中公式(4)、(5)所示。)
2.工作流程(结合论文描述):
a.系统归零:转动螺母使上下极板接触,将千分表归零。
b.测量样品厚度(t):升起上极板,放入样品,下降极板至刚好压紧样品(无额外压力)。读取千分表示数,即为样品厚度t。通过多次旋转样品角度测量取平均,提高厚度测量精度。
c.测量空气电容(C1):升起上极板取出样品,保持极板间距D不变,用万用电桥测量此时电容C1(即C0)。
d.测量有样品电容(C2):保持极板间距D不变,放入样品,用万用电桥测量此时电容C2(即C)。
e.改变间距,重复测量:改变极板间距D,重复步骤(c)和(d),获得多组数据(D,C1,C2),用于计算εr并分析误差。
f.介质损耗测量:在用电桥测量电容C2的同时,可以直接读取或计算出介质损耗角正切值(tanδ),这是评估绝缘材料能量损耗特性的关键参数。
四、装置特点与符合的标准
主要特点(改进优势):
1.高精度:大尺寸极板、无转动的平行升降机构、千分表直接测距,共同减小了系统误差。
2.样品适应性广:不再局限于1-2mm的特制薄片,可以测量更厚、更容易加工的样品(如论文中t=2.612mm的有机玻璃)。
3.操作更科学:厚度测量与电容测量分离且可重复验证,数据可靠性高。
符合的测试标准:
该装置的设计原理和测量方法符合文中提及的多项国内外标准,包括:
ASTMD150-交流损耗特性和介电常数的标准试验方法。
GB/T1409-测量电气绝缘材料在工频、音频、高频下电容率和介质损耗因数的方法。
GB/T1693-硫化橡胶介电常数和介质损耗角正切值的测定方法。
GB/T5594.4-结构陶瓷材料介电性能测试方法。
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