有关介电常数介质损耗试验仪在使用操作过程中的8 大注意事项

1. 样品制备  

   厚度公差≤±0.1 mm，平行度≤5 µm，避免“边缘电容 Ce"引入系统误差 。  

   表面粗糙度 Ra≤0.8 µm，防止“表面电导"使 tanδ 偏大 。  

2. 电极系统  

   三电极结构（保护电极-测量电极-高压电极）必须对中，消除“边缘效应"和“杂散电容 Cs" 。  

   接触压力 0.5 N/mm²，确保“真实接触面积"接近几何面积，降低“空气间隙误差" 。  

3. 校准顺序  

   空载电容 C0→短路零点→标准电容器（NIST 溯源），完成“三点校准"后再测样品 。  

   每年≤1 次整机校准，并记录“校准因子 k"便于结果溯源 。  

4. 环境控制  

   23 ℃±2 ℃，RH ≤ 65 %，高频测试时把整机移入恒温恒湿箱，静置 2 h 以消除“吸湿极化" 。  

5. 寄生电容补偿  

   高频下引线寄生电容 Cp 可高达 10 pF，必须使用仪器内置“Cp 补偿"功能，否则 εʹ 虚高 。  

6. 高压安全  

   升压速率≤1 kV/s，场强上限 1 kV/mm（IEC 60250），防止“预击穿树化" 。  

   操作区 1 m 内禁人，配 CO₂ 灭火器，防止“表面闪络"引发电弧 。  

7. 数据记录  

   同步记录“环境 tanδ 背景值"（空池），用于后期“空白扣除" 。  

8. 关机流程  

   先降电压→放电 30 s→取样品，防止“残余电荷"损坏输入级 。