咨询电话:13699145010
article技术文章
首页 > 技术文章 > 四探针电阻率测试工作原理工作原理及组成部分

四探针电阻率测试工作原理工作原理及组成部分

更新时间:2025-11-19      点击次数:17

 四探针电阻率测试工作原理工作原理及组成部分

四探针测试仪的测试理论已经相当成熟,依据的理论是范德堡原理,采用的是直流四探针测试法,如图1所示,是用针距为1mm的四根探针同时压在样品的表面上,利用恒流源给外面的1,4探针通过电流,再从2,3探针上测量出电位差,经过相关运算得到材料的电阻率.当四根探针排成一直线时,并施加定压力在半导体上时,则半导体的材料电阻率:ρ=CV/I (Ω·cm

式中C为探针修正系数,cm,当针间距确定后是一个常数,与样品无关,V232,3针间的电压,V;I为通过的电流,mA.




北京中航时代仪器设备有限公司
  • 联系人:石磊
  • 地址:北京市房山区经济技术开发区1号
  • 邮箱:zhsdyq@163.com
  • 传真:86-010-80224846
关注我们

欢迎您关注我们的微信公众号了解更多信息

扫一扫
关注我们
版权所有 © 2025 北京中航时代仪器设备有限公司 All Rights Reserved    备案号:京ICP备14029093号-1    sitemap.xml
管理登陆    技术支持:化工仪器网