体积表面电阻率测试仪（高阻计）应用过程需注意的细节

体积表面电阻率测试仪用于测定材料的绝缘特性，其应用过程需严格遵循IEC 60093或ASTM D257标准。测试前制备厚度均匀（误差≤±3%）的方形或圆形样品，表面经异丙醇清洁并烘干2小时以上，消除静电干扰。采用三电极系统时，主电极与保护环间距控制在2mm以内，确保表面电阻测量时电场分布均匀。测试体积电阻率时，需使用上下对称电极，避免边缘漏电流。

操作时，将样品置于屏蔽箱内，测试电压选择100V-1000V（根据材料类型调整），稳定30秒后读取电流值。高阻计自动计算电阻率，表面电阻率测量需保持电极接触压力0.2-0.5N/cm²。环境控制为25±1℃、湿度50±5%RH，必要时通过氮气置换降低环境电离影响。针对薄膜材料，采用滚轮电极消除接触电阻；对复合材料需多点测量取几何平均值。测试后需放电15秒以上，防止残余电荷损伤仪器。应用领域涵盖半导体封装材料验证、电缆绝缘层质检、防静电地板认证等，特别适用于纳米涂层导电性能的量化评估。报告需明确区分体积/表面电阻率，并注明测试电压与电极配置参数。