体积表面电阻率测试仪——影响电阻测量精度的六大关键因素

测量时间

分布电容充电时间达数十分钟（例：电缆测试中初始阻值偏低，60s后稳定）

设定定时测量（如GB/T 3048规定电缆测量时间60s）。

重复测量

残余电荷叠加（导致二次测量阻值↑30%以上）

测量为基准，重复测试需放电≥30分钟。

电压选择

高电压激活材料漏电流（1000V比100V测值低50%）

根据标准选择电压（如IEC 60243规定绝缘材料测试电压梯度1kV/mm）。

温度波动

半导体反向漏电流随温度↑8℃翻倍（硅材料特征）。

恒温实验室（±1℃），数据换算至标称温度（如25℃）。

湿度干扰

表面吸湿（湿度↑60%→表面电阻↓100倍）。

预干燥处理（50℃烘箱2h）+实时湿度监控。

环境电磁干扰

电磁场感应电流（电焊机启动时噪声电流达10⁻¹⁰A）

双重屏蔽室、低噪声同轴电缆（屏蔽层接地阻抗＜1Ω）。