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绝缘材料介电常数及介质损耗因数测试仪

简要描述:ZJD-C介电常数及介质损耗测试仪

仪器介绍
ZJD-C介电常数及介质损耗测试仪是根据GB/T 1409《测量电气绝缘材料在工频、音频、高频(包括米波波长在内)下电容率和介质损耗因数的试验方法》(等效采用IEC 60250)设计和制造的,并符合JB 7770等试验方法。它适用于在高频(1MHz)下绝缘材料的测试。
技术参数
 ZJD-C介电常数及介质损耗测试仪作为一代的通用、多用途、

  • 产品型号:
  • 厂商性质:生产厂家
  • 更新时间:2024-01-30
  • 访  问  量:1236

详细介绍

绝缘材料介电常数及介质损耗因数测试仪

    ZJD-C介电常数及介质损耗测试仪是根据GB/T 1409《测量电气绝缘材料在工频、音频、高频(包括米波波长在内)下电容率和介质损耗因数的试验方法》(等效采用IEC 60250)设计和制造的,并符合JB 7770等试验方法。它适用于在高频(1MHz)下绝缘材料的测试。

绝缘材料介电常数及介质损耗因数测试仪

 ZJD-C作为一代的通用、多用途、多量程的阻抗测试仪器,测试频率上限达到目前高的160MHz。 ZJD-C介电常数及介质损耗测试仪采用了多项技术:

1 双扫描技术 - 测试频率和调谐电容的双扫描、自动调谐搜索功能。

2 双测试要素输入 - 测试频率及调谐电容值皆可通过数字按键输入。

3 双数码化调谐 - 数码化频率调谐,数码化电容调谐。

4 自动化测量技术 -对测试件实施 Q 值、谐振点频率和电容的自动测量。

5 全参数液晶显示 – 数字显示主调电容、电感、 Q 值、信号源频率、谐振指针。

6 DDS 数字直接合成的信号源 -确保信源的高葆真,频率的高精确、幅度的高稳定。

7 计算机自动修正技术和测试回路*化 —使测试回路 残余电感减至zui低,** Q 读数值在不同频率时要加以修正的困惑。

  ZJD-C介电常数及介质损耗测试仪的创新设计,无疑为高频元器件的阻抗测量提供了*的解决方案,它给从事高频电子设计的工程师、科研人员、高校实验室和电子制造业提供了更为方便的检测工具,测量值更为精确,测量效率更高。使用者能在仪器给出的任何频率、任意点调谐电容值下检测器件的品质,无须关注量程和换算单位。

 

Q 值测量范围

2 ~ 1023 , 量程分档: 30 、 100 、 300 、 1000 ,自动换档或手动换档

固有误差

≤ 5 % ± 满度值的 2 %( 200kHz ~ 10MHz ), ≤6% ± 满度值的2%(10MHz~160MHz)

工作误差

≤7% ± 满度值的2% ( 200kHz ~ 10MHz ), ≤8% ± 满度值的2%(10MHz~160MHz)

电感测量范围

4.5nH ~ 140mH

电容直接测量范围

1 ~ 200pF

主电容调节范围

18 ~ 220pF

主电容调节准确度

120pF 以下 ± 1.2pF ; 120pF 以上 ± 1 %

信号源频率覆盖范围

100kHz ~ 160MHz

频率分段 ( 虚拟 )

100 ~ 999.999kHz , 1 ~ 9.99999MHz,10 ~ 99.9999MHz , 100 ~ 160MHz

频率指示误差

3 × 10 -5 ± 1 个字

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